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Titre: Modélisation à l’échelle atomique des jonctions fines application à l’étude des mécanismes de dégradation de l’interface Si/SiO2
Auteur(s): GUENIFI, Naima
Date de publication: 7-déc-2014
URI/URL: http://dspace.univ-setif.dz:8888/jspui/handle/123456789/89
Collection(s) :Thèses de doctorat

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