pplication de nouvelles techniques de traitement de signal pour la résolution des problèmes de diagnostiques de défauts des circuits analogiques intégrés

Abstract

Notre travail vise une contribution à la résolution des problèmes rencontrés dans le diagnostic des pannes de circuits électroniques. Un des plusieurs problèmes rencontrés est l'absence de fonctionnalités efficaces qui contribuent à optimiser le classificateur de pannes, et par conséquent, à améliorer la détection et l'identification des fautes de circuit.Par conséquent, notre méthode d'extraction de caractéristiques base sur la fonction de transfert (FT).Pour détecter et identifier ces défauts, nous avons employé diverses téchniques du traitement du signal, comme des modèles du système d’identification(MSI) sur Matlab tel que le modèle d’erreur de sortie OE (Output Error) qui fait partie de la famille des modèles ARMA.Ces caractéristiques représentent les coefficients du polynôme de la fonction de transfert, qui sont essentiels dans la modélisation des circuits sans défauts et défectueux,ainsi que pour alimenter le classificateur en vue d'un diagnostic des pannes. Une meilleure précision etune bonne optimisation des caractéristiques ont obtenues par l’utilisation d’une combinaison de deux algorithmes AG-SVM.