Topi spectroscopic characterization of scandium aluminum nitride alloys

Abstract

Ce travail de thèse est dédié à l’étude des propriétés optiques, structurales et électroniques des films minces de l’alliage nitrure d’aluminium et scandium. Le nitrure d'aluminium AlN est un semiconducteur III-V qui trouve des applications potentielles en optoélectronique et dans le domaine des ultraviolets pour produire des diodes électroluminescentes (LEDs) et Lasers à émission UV. Par l’addition de certain pourcentage de scandium dans la structure hexagonale de nitrure d’aluminium, on aura un changement dans la structure de la composition d’un matériau Actuellement la recherche se poursuit encore autour de ce matériau pour diminuer la longueur d'onde d'émission des LEDs notamment par l'introduction d'AlN sous la forme de nanofils. Dans le cadre de ce travail, on caractérisera les propriétés structurelles, optiques et électroniques d’une série d’échantillons tout en étudiant leur interaction avec des absorbants appropriés. A cet effet les techniques de caractérisation XPS, DRX, FTIR, ellipsometrie spectroscopie et UV-Vis spectroscopie seront utilisées d’une manière complémentaire