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Dépôt Institutionnel de l'Université Ferhat ABBAS - Sétif 1 >
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http://dspace.univ-setif.dz:8888/jspui/handle/123456789/4888
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| Titre: | Etyde des méthodes de contrôle de planéité et de parallélisme des faces de mesure des instruments et appareils de mesure |
| Auteur(s): | Mohamed, lallali |
| Mots-clés: | measure, flatness, parallelism, Surface, control |
| Date de publication: | 16-déc-2024 |
| Collection/Numéro: | Mémoire de Master; |
| Résumé: | In metrology, the surface condition is an important factor in the performance of a product, the choice of the parameter or parameters to be specified always remains a delicate problem.
The goal of this work is the study of methods for controlling the flatness and parallelism of flat surfaces (optical, mechanical and electrical methods) and the application of some methods on dimensional and three-dimensional instruments |
| URI/URL: | http://dspace.univ-setif.dz:8888/jspui/handle/123456789/4888 |
| Collection(s) : | Mémoires de master
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