Développement de techniques de test des circuits analogiques par simulation à l’aide de SPICE

Abstract

Le travail présenté dans ce manuscrit porte sur l’application de nouvelles techniques employées dans le diagnostic des défauts présents dans les circuits analogiques intégrés.Plus précisément, il aborde la détection et la classification des défauts dans ce type de circuits susceptibles de tomber en panne et se dégrader pendant la durée de fonctionnement.Ces derniers quoiqu’ils représentent un quart de leur monde électronique en le comparant à leur contrepartie numérique,ils constituent l’élément clef de notre monde.Ces circuits sont de nature analogique et sont devenus alors de plus en plus nécessaires dans le monde de l’électronique. Cette nécessité est due à leur importance dans les domaines de la science et de la recherche à savoir la télécommunication, l’avionique,du biomédical…etc.Ce qui nécessite un diagnostic pointu dont l'objectif principal est de fournir un outil automatique et efficace qui permet la détection précoce des défauts pour en protéger les circuits,et en plus de les classifier .Pour ce faire des classificateurs à base de l’intelligence artificielle ont été construits,tels que les classificateurs neuronal et Neuro-flou,ANFIS.En autre,le processus de diagnostic a été amélioré par l’introduction de ce classificateur précédé d’une approche de réduction de dimensionnalité appelée PCA.Ce dernier a été comparé à d’autres types de classificateurs et s’est remarqué par son efficacité et sa précision.