Test des circuits analogiques à base de la logique floue par voie de simulation

Abstract

Avec le développement rapide de la microélectronique et de la technologie des semi conducteurs, les systèmes électroniques analogiques intégrés développent des fonctions plus sophistiquées et complexes et deviennent de plus en plus exigeants en termes de fiabilité. Par conséquent, la nécessité de disposer de méthodes automatiques pour leurs tests et leurs diagnostics représente un problème crucial aux chercheurs en la matière dans ce domaine. Le développement d’approches et de méthodes efficaces pour la détection et la classification des défauts dans les circuits analogiques constitue la pierre angulaire de tout projet de recherche relatif à la conception de test visant à améliorer la performance des circuits intégrés.