Propriétés physiques de couches minces de Co100-x Pdx élaborées sous vide par évaporation thermique

Abstract

Ce travail de thèse porte sur l’étude des propriétés structurales et magnétiques des couches minces de CoPd d’épaisseur 150 nm, évaporées sous vide sur des substrats de GaAs(100) et de Si(100).Les concentrations atomiques de Pd sont confinées entre 8 et 31%, valeurs déterminées par la techniques XRF. L’étude par DRX a montré que les films CoPd/GaAs sont monocristallins et ont une structure cubique à faces centrées (c.f.c.) et les films CoPd/Si ont une structure hexagonale compacte (h.c.p.). La taille des grains des échantillons CoPd/GaAs est confinée entre 4.8 et 21.6 nm et varie entre 81.6 et 107.7nm pour les échantillons CoPd/Si. Par ailleurs, la microscopie AFM révèle des images topographiques de surface lisse pour la plupart des échantillons; les valeurs de la rugosité sont comprises entre 0.7 et 8.4nm. Les mesures d’aimantation ont montré que les films sont ferromagnétiques, avec une anisotropie planaire. Le champ coercitif est compris entre 20 et 251 Oe. L’aimantation à saturation est comprise entre 192 et 1152emu/cm3 et diminue avec l’augmentation de la concentration de Pd.