Etude de l’effet photoacoustique dans les semiconducteurs composés de deux couches

Abstract

La spectroscopie photoacoustique (PAS) attire actuellement beaucoup d’intérêts comme une technique très fiable dans l’étude des propriétés optiques des semiconducteurs massifs et en couches minces.La Souplesse dans leur utilisation dans la détermination des spectres optiques d’échantillons avec des degrés de sensibilité variables et leur capacité d’étude en profondeur, font de cette technique un moyen très performant dans les essais non destructifs. Notre objectif dans ce travail consiste à étudier la réponse photoacoustique émanant des échantillons composés de deux couches à base du silicium. On a développé une relation mathématique pour le signal photoacoustique normalisé en fonction des paramètres géométriques de la cellule photoacoustique qui permet de séparer l’absorption de chaque couche. Les résultats de simulation obtenus sont en bon accord avec les résultats expérimentaux existants dans la littérature.