Approche de test de circuit analogique par la technique BIST

Abstract

En numérique, les techniques de test ont conduit à un soubresaut éminent en matière de qualité de l’opération de test qui se caractérise par sa simplicité, efficacité et rapidité. Parmi ces techniques on cite la fameuse BIST qui fut même implémentée avec le circuit à tester le rendant ainsi auto testable. Par contre en analogique, le test est plus complexe de par sa nature diversifiée en termes de paramètres. Malheureusement cette tâche est délicate et consommatrice de temps. Un souci fort majeur domine les esprits des chercheurs afin de solutionner ces problèmes. L’objectif fixé à travers le thème de notre travail est de tester un circuit analogique par la technique BIST. L’importance donnée ici en premier est de réussir ce test de ce circuit par cette technique de test tout en préservant sa structure de base qui sert à la génération de vecteur de test, de l’analyse de signature et de prise de décision sur la présence et l’absence de fautes. Le circuit sous test n’est autre que l’ampli-inverseur d’usage commun conçu à base d’un amplificateur opération de type 741. Le type de fautes pris en compte dans cette étude est celui des fautes dures appelées aussi fautes catastrophiques provenant des dégradations physiques fréquentes des transistors de technologie CMOS et bipolaires. Notre circuit soumis à la présence de ce genre de défaillance est simulé par le biais du SIMULINK afin de constituer un récipient de données d’analyse de ses réponses.