Conception testable de circuits intégrés complexes à très haut niveau

Abstract

L’objectif de ce travail est de proposer une nouvelle approche de test en ligne pour les systèmes embarqués dédiés aux applications critiques. Cette approche de test en ligne est basée sur une approche BIST (Built-In Self-Test) dans laquelle des sondes optiques sont ajoutées à l’architecture classique BILBO (Built-In Logic-Block Observation). De ce fait, de nouveaux registres Optiques BILBO (OBILBO) sont proposés. La méthode de test complète développée dans cette thèse, adaptée à la technique de duplication matérielle, permet d’assurer une vérification fonctionnelle du système en exploitation afin de détecter la présence d’éventuelles erreurs, sans pour autant interrompre ou ralentir son fonctionnement normal. Elle permet, en outre, une détection immédiate de fautes de collage simples avec une latence d’erreur d’un seul cycle d’horloge, sans toutefois avoir recours à aucune opération de génération de vecteurs de test. Cette approche rend également possible la réalisation des tests hors ligne en diagnostiquant des fautes pouvant apparaître sur les registres OBILBO eux-mêmes. L’avantage de cette approche est qu’elle permet de réduire les N opérations de décalage série (N : nombre d’étages du registre OBILBO) nécessaires pour effectuer un pareil scan, en une seule opération de décalage et ainsi d’éviter le caractère série de ce registre. Outre cette possibilité, le registre OBILBO produit aussi unesignature optique qui peut être analysée grâce à un système distant. L’outil VHDL-AMS est utilisé pour la modélisation, la simulation et la validation de la technique présentée dans ce manuscrit.