Dépôt Institutionnel de l'Université Ferhat ABBAS - Sétif 1 >
Faculté de Technologie >
Département d'Electronique >
Mémoires de magistère >
Veuillez utiliser cette adresse pour citer ce document :
http://dspace.univ-setif.dz:8888/jspui/handle/123456789/1792
|
Titre: | Modélisation et simulation des phénomènes de transport dans la structure métal-isolant-semiconducteur (MIS) |
Auteur(s): | Rahal, Abdelghani |
Mots-clés: | Mécanisme de transport Structure MIS Courant tunnel MATLAB |
Date de publication: | 27-mai-2018 |
Résumé: | La structure métal-isolant-semi conducteur (MIS) est un des composants électroniques les plus importants.Il est utilisé comme capacité à semi-conducteur ,diode tunnel, cellule mémoire,cellule solaire et structure de commande dans les transistors MOSFET.
Si la couche d'isolation est assez mince,la structure devient le siége du quasi totalité des phénoméne de transports connus dans la théorie des composants semi-conducteur: dérive, diffusion, génération, recombinaison, tunnel bande à bande, tunnel à travers les états d'interface, etc les conditions d'equilibre de la structure ne peuvent étre trouvées qu'en prenant en compte tous ces phénoménes. |
URI/URL: | http://dspace.univ-setif.dz:8888/jspui/handle/123456789/1792 |
Collection(s) : | Mémoires de magistère
|
Fichier(s) constituant ce document :
|
Tous les documents dans DSpace sont protégés par copyright, avec tous droits réservés.
|