Etude des propriétés structurale, électrique et magnétique des couches minces FexNi100−x et FexNiyCoz déposées par évaporation sous vide sur du silicium monocristallin Si(100)

Abstract

Ce travail de these est consacré a l'etude de certaines propriétés physiques de deux séries de films FexNi et FexNiyCoz coevaporés sur du silicium oxydé Si(100), en faisant varier la composition. Pour la seconde série, les proportions de nickel et de fer ont été maintenues constantes et, proche de celle du permalloy. Après la d´détermination de la composition atomique par l’analyse EDX, les épaisseurs des films ont et´e déduites en simulant les spectres RBS pour chaque film. Les informations déduites des techniques de la diffraction classique des rayons X (DRX) et la microscopie `a force atomique (AFM) indiquent que les films sont polycristallins et croissent avec les textures < 111 > et < 110 > pour la première série et la texture < 111 > pour la deuxième série. Deux méthodes ont été utilisées pour étudier l’analyse des profils des raies X (LPA). Les propriétés magnétiques ont été étudiées en enregistrant les cycles dhystérésis au moyen d’un magnétomètre `a gradient de champ (AGFM), ou d’un magnétomètre `a échantillon vibrant (V SM). Tous les échantillons sont magnétiquement doux caractérisés par une anisotropie planaire, sans aucune direction préférentielle. Il a été constat´e que l’ajout de cobalt au permalloy améliore son aimantation `a saturation tout en maintenant une faible coercitive´e, tandis que la résistivité demeure sensiblement constante. D’un autre cˆot´e, les propriété structurales, ´élastiques, électroniques et optiques des compos´es AIn2P2(A = Ca, Sr, Ba) de type phases-Zintl ont ´et´e calculées.