|
Dépôt Institutionnel de l'Université Ferhat ABBAS - Sétif 1 >
Institut d'Optique et de Mécanique de Précision >
Mémoires de magistère >
Veuillez utiliser cette adresse pour citer ce document :
http://dspace.univ-setif.dz:8888/jspui/handle/123456789/1545
|
| Titre: | Caractérisation des couches minces de Tin,Zno et TiO2 par voie optique |
| Auteur(s): | Nadji, Fares |
| Mots-clés: | optique constant
ellipsometrie |
| Date de publication: | 13-mai-2018 |
| Résumé: | Sommaire:
Introduction générale
-Chapitre I:Théories des couches minces
-Chapitre II:Matériaux étudiés
-Chapitre III:L'ellipsometrie
-Chapitre IV: Parties expérimentale
-Conclusion Générale
-Références bibliographiques
-Annexes. |
| URI/URL: | http://dspace.univ-setif.dz:8888/jspui/handle/123456789/1545 |
| Collection(s) : | Mémoires de magistère
|
Fichier(s) constituant ce document :
|
Tous les documents dans DSpace sont protégés par copyright, avec tous droits réservés.
|
