Etude de propriété physiques des couches minces FexCo1-x déposées sur Si(100) et verre

Abstract

Deux séries de films d’alliages FexCo1-x ont été déposées par co-évaporation sur des substrats en Si(100) oxydé et en verre. La composition atomique a été évaluée par analyse EDX. La simulation des spectres RBS indique que les épaisseurs des films sont comprises entre 300Å et 2649Å. Les informations structurales obtenues par DRX en mode /2 indiquent l’existence de deux phases cfc et cc pour x=0,24 et x=0,3. Tous les films présentent des textures (110) et (211) avec une taille des grains variant en fonction de la composition. Le paramètre de maille augmente rapidement avec x à partir de la valeur du paramètre de maille du cobalt (ac= 2.45Å) pour se stabiliser autour de celle du fer (af=2.87Å). La résistivité électrique déduite de la résistance carrée mesurée par la méthode des quatre pointes, a un comportement oscillant en fonction de la composition. Ce profil est attribué à un accroissement de la densité d’états inoccupés de la bande d↑ et à un changement dans la structure cristallographique. Les propriétés magnéto-optiques ont été étudiées en enregistrant le cycle d’hystérésis de la rotation Kerr longitudinale. Tous les échantillons sont caractérisés par une anisotropie dans le plan sans aucune direction privilégiée. La variation de la coercivité dans le plan en fonction de la composition présente un maximum (Hc=140Oe) proche de la composition atomique équitable en conformité avec la variation de la taille des grains et de la transition dans la phase cristalline.