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Dépôt Institutionnel de l'Université Ferhat ABBAS - Sétif 1
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Date de publication
Titre
Auteur(s)
4-jui-2018
Modélisation à l’échelle atomique des jonctions fines application à l’étude des mécanismes de dégradation de l’interface Si/SiO2
Guenifi, Naima
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